Solutions laser pour le test de circuits intégrés
Depuis plus de 10 ans, ALPhANOV vous accompagne et développe des solutions optiques et lasers pour le test de circuits intégrés. Découvrez ici les équipements hauts de gamme et de hautes précisions pour l'injection de fautes par laser, l'analyse des émissions photoniques des circuits intégrés ou bien la stimulation thermique par laser pour la lecture d'état de transistors.
Notre gamme de produits
Nos projets collaboratifs en lien
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ASCRIPT – Analyse Sécuritaire de CiRcuits Intégrés par effet PhotoThermique
Elaborer de nouveaux procédés d’évaluation et d’amélioration sécuritaire des circuits intégrés autour d’une technique d’imagerie consistant à utiliser un laser comme source de chaleur.
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PILAS - Procédé d’Injection laser avancés pour Analyses Sécuritaires des circuits intégrés
Développer un système et une méthodologie d’injection de fautes multipoints sur circuits intégrés.
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